. .
セミナー・イベントTOPへ戻る

設計段階で潜在的原因をあらかじめなくし、品質トラブルを未然防止するための講座

新技術を折り込んだ商品の開発において不具合原因を作り込まないために必要な最先端のリスクマネジメントを体系的・総合的に理解するための特別セミナー!

リコール・顧客クレーム・慢性製造不良をゼロにするための
設計品質の見える化と作り込み方法

〜 機能系統図と設計標準・試験標標準のリレイションチャート、
新技術を折り込んだ商品における不具合発生の未然防止、
設計開発工数を極限まで削減するためのバーチャル実験 〜

■開催日時:2018年07月18日(水) 10:30 〜 17:30


■会場:日本テクノセンター研修室
    (東京都新宿区西新宿二丁目7-1 小田急第一生命ビル 22階)

■受講料:一般(1名) : 48,600円 (税込)
     同時複数申し込みの場合(1名) : 43,200円 (税込)

■主催:(株)日本テクノセンター


■受講対象者:
・下記のようなニーズをお持ちの管理者・経営者の方及び、各部門で品質改善の旗振りを担って
 おられる方を対象にしております。
(1)これから世の中に導入する新技術商品においてリコール・顧客クレーム・製造不具合を
   完全に未然防止したい。
(2)既に世の中に出している商品の顧客クレームを一刻も早くゼロにしたい。
(3)一向に減らない慢性製造不良を一刻も早くゼロにしたい。
(4)世の中の最先端のリスクマネジメント手法であるFMEA・実験計画法・品質工学(タグチ
   メソッド)に関する知識を得た上で、自社への導入の要否を検討したい。

■予備知識:
・設計開発・生産技術・製造・品質保証などの部門での実務経験があるほうがベターですが、
 今後これらの部門をマネイジメントされる予定の方についてはその限りではありません

■修得知識:
・従来の技術の延長線上で設計開発できる商品と新技術を折り込んだ商品との設計開発のやり方を
 どのように変えるべきか、その方法論が理解できます
・機能系統図と試験標準・設計標準とのリレイションチャートにより、設計品質の見える化が
 可能であることが理解できます。そして設計品質の見える化を実現させることにより検図や
 DR(デザインレビュー)の効果の向上と効率アップが図れます
・新商品を対象とした、FMEA/FTA・実験計画法(タグチ式実験計画法)・品質工学
(タグチメソッド)による最先端のリスクマネジメントを体系的・総合的に理解できます。
・貴社で実施されている設計品質の見える化やリスクマネジメントで十分かどうか、評価する事が
 出来るようになります
・部下の皆様や関係部門の皆様に、どのような実務者向け研修講座を受講させるべきか判断が
 出来るようになります。また実務者向け研修講座を受講された方々の成果を適切に評価する事が
 出来るようになります

■講師の言葉:
 企業が永続的に存続するためにはお客さまに喜ばれる商品を提供出来なければなりません。
そしてお客様に喜ばれる商品である為の必須条件は、市場で顧客クレームやリコールなどを
起こさないことであり、その潜在的原因をあらかじめ設計開発段階で無くしておくことが必須です。
そうしないと企業の存続に関わる事態になるということは、いまだに新聞紙上をにぎわしている
各社のリコールの例を見ても明らかです。
 また、商品の出荷前の検査で不良品の流出は防止出来ているものの、慢性製造不良が無くならず
手戻り工数がかかり、収益に悪影響を与えている状況が多いのも、製造不良の潜在的原因を
あらかじめ設計開発段階で無くしていないからです。
この様な事態に対応するために、皆様の所でも色々な工夫をされていると思いますが、本講座に
おいて設計開発段階ではどのようなことをするのがベストなのかご理解いただくことにより、
現状に改善の余地がないかどうか判断していただくのが本講座の目的です。そういう意味で特に
経営者・管理者等のトップマネイジメントの皆様及び、各部門で品質改善の旗振りを担って
おられる方々の受講をお勧めしたいと思います。


1.従来の技術の延長線上で設計開発できる商品の設計段階での設計品質の見える化
  (1).機能系統図
    a.設計品質の見える化のベースとなる機能系統図
    b.懐中電灯の機能系統図(事例紹介)
  (2).設計標準・試験標標準
    a.設計品質の見える化のツールとしての設計標準・試験標準
    b.試験標準の設計標準への置き換えによる開発活動の効率化
    c.設計標準・試験標標準更新の仕組み
  (3).機能系統図と設計標準・試験標標準のリレイションチャート
    a.リレイションチャートによる設計品質の見える化の実現
    b.リレイションチャートの色々な使い方

2.新技術を折り込んだ商品の開発において不具合原因を作り込まないために必要なFMEA/
  FTA
  (1).従来の技術で設計開発できる商品と新技術を折り込んだ商品との設計開発活動の違い
    a.フィードバック型設計とフィードフォワード型設計
    b.目標管理型開発活動とリスクマネジメント型開発活動
  (2).新技術を折り込んだ商品における不具合発生の未然防止
    a.不具合事象(故障モード)を発生する可能性のある設計開発対象の絞り込み方
    b.絞り込まれた設計開発対象において発生する可能性のある不具合事象(故障モード)の
      予測方法
    c.予測された故障モードの原因となる可能性のある故障原因の予測方法
    d.予測された故障原因に対する事前対応策

3.新技術を折り込んだ商品の開発において不具合原因を作り込まないために必要な品質工学的
  アプローチ
  (1).新技術を折り込んだ商品の開発におけるFMEA/FTAの限界
  (2).FMEA/FTAの限界を補うための品質工学的アプローチ
    a.新技術を折り込んだ商品の開発における最適設計とは
    b.トライアンドエラーによる最適設計から設計段階でロバスト性を確保するという
      考え方への転換
    c.品質特性毎の最適設計から基本機能による最適設計への転換
    d.最適設計にたどり着くまでの開発工数を大幅に削減できる直交表の役割
    e.最適設計にたどり着くまでのプロセスが正しかったかどうかを明らかにするための
      検査方法
    f.設計開発工数を極限まで削減するためのバーチャル実験

4.まとめ(上記1.・2.・3.の体系的活用方法)

Copyright (C) 2018 NTS Inc. All right reserved.