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真空紫外とＸ線の光源 |
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| 1.1 | 放射光発生の原理と特徴 |
| 1.1.1 | はじめに |
| 1.1.2 | 放射光生成における相対論的効果 |
| 1.1.3 | 電子の運動学と放射光生成の定性的理解 |
| 1.1.4 | 放射光スペクトルの諸特性 |
| 1.1.5 | 電子ビーム特性と放射特性 |
| 1.1.6 | 放射光源の偏光制御 |
| 1.1.7 | 高品位電子ビームによって可能になる放射光の新しい特性 |
| 1.2 | 制動放射と特性Ｘ線 |
| 1.2.1 | X 線 |
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| 1.2.2 | 実験室系のX線発生法 |
| 1.2.3 | X線のスペクトル |
| 1.2.4 | 種々のX線発生装置 |
| 1.2.5 | X線焦点の見かけ上の大きさ |
| 1.2.6 | 今後のX線源 |
| 1.2.7 | X線取扱い注意事項 |
| 1.3 | プラズマからのＸ線の発生 |
| 1.3.1 | はじめに |
| 1.3.2 | レーザープラズマ |
| 1.3.3 | レーザープラズマの生成 |
| 1.3.4 | X線の発生 |
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真空紫外光の分光 |
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| 2.1 | 真空紫外光の特徴と光学素子 |
| 2.1.1 | 真空紫外光の透過と反射 |
| 2.1.2 | 光学素子 |
| 2.2 | 真空紫外光の検出 |
| 2.2.1 | 光電子増倍管 |
| 2.2.2 | マイクロチャンネルプレート |
| 2.3 | 真空紫外分光器 |
| 2.3.1 | 真空紫外回折格子 |
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| 2.3.2 | 回折格子分光器の幾何光学 |
| 2.3.3 | 極端紫外分光器 |
| 2.3.4 | 軟X線分光器 |
| 2.4 | レイトレーシング |
| 2.4.1 | レイトレーシングの計算方法 |
| 2.4.2 | レイトレーシングに基づく分光器の設計法 |
| 2.4.3 | レイトレーシングソフトウェア |
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Ｘ線の分光 |
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| 3.1 | Ｘ線の特徴と光学素子 |
| 3.1.1 | 分光結晶 |
| 3.1.2 | 光学素子 |
| 3.1.3 | 偏光素子 |
| 3.2 | Ｘ線の検出 |
| 3.2.1 | 0次元検出器 |
| 3.2.2 | 位置分解能を有する検出器(多次元検出器） |
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| 3.3 | Ｘ線分光器 |
| 3.3.1 | X線分光光学素子と分解能 |
| 3.3.2 | 放射光施設における2結晶分光器 |
| 3.3.3 | 2結晶分光器を用いた高調波除去 |
| 3.3.4 | X線分光器における熱問題 |
| 3.3.5 | 実験室でのX線分光器 |
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荷電粒子の分光 |
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| 4.1 | 電子光学の基礎 |
| 4.1.1 | はじめに |
| 4.1.2 | 静電レンズの基礎 |
| 4.1.3 | 電子銃 |
| 4.1.4 | エネルギー分析器（静電アナライザー） |
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| 4.1.5 | 付帯技術 |
| 4.2 | 荷電粒子の検出 |
| 4.2.1 | 荷電粒子検出器 |
| 4.2.2 | 使用にあたっての諸注意 |
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特殊条件下の測定 |
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| 5.1 | 分子線・クラスターの発生 |
| 5.1.1 | 分子線発生の種類と発生法 |
| 5.1.2 | クラスターの種類 |
| 5.1.3 | クラスター生成方法 |
| 5.2 | 二次元画像測定 |
| 5.2.1 | はじめに |
| 5.2.2 | 二次元検出器の分類 |
| 5.2.3 | ディレーライン型二次元検出器 |
| 5.2.4 | ディレーライン型二次元検出器の画像処理 |
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| 5.2.5 | ワイヤー型二次元検出器 |
| 5.2.6 | 高抵抗フィルム付きバックギャモン改良型二次元検出器 |
| 5.3 | 同時計測 |
| 5.3.1 | はじめに |
| 5.3.2 | 電子と電子の同時計測 |
| 5.3.3 | イオンの多重同時計測 |
| 5.3.4 | 電子・イオン同時計測 |
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