RoHS指令により電気・電子機器に対する特定有害物質の使用が2006年7月から制限された。現在鉛フリー化対策が精力的に進められているが、ここにきて鉛フリー対応部品から錫ウィスカによる信頼性問題が発生し、その対策が緊急課題となっている。 本書では、錫ウィスカ発生への30年にわたる取り組みの経緯から、現在進められている成長プロセスの解明、各種対策、評価技術を紹介する。 ※ R&Dプランニング主催「緊急課題：錫ウィスカ成長プロセスの解明と対策」セミナー(2005年6月)を講演録として編集。 2006年6月 本体24,400円＋税 200頁 B5 株式会社R&Dプランニング 歴史的背景と最近の話題 　 電子部品の錫ウィスカ 川中　龍介　　（関西品質技術研究所） 伊藤　貞則　　（オムロン） 　 鉛フリー対応錫めっき 　 錫ウィスカの観察・解析技術 藤原　裕　　（大阪市立工業研究所） 井原　惇行　　（楠本化成） 　 錫ウィスカの成長機構 　 　 　 辻　清貴　　（石原薬品） 　 　 Copyright　(C) 2006　NTS Inc. All right reserved.