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赤外分光 |
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| 1.1 | 実験例 |
| 1.1.1 | HClの振動回転スペクトル測定 |
| 1.1.2 | ポリペプチド（PBLG）の偏光赤外スペクトル測定 |
| 1.1.3 | 身の回りにある高分子のスペクトル測定 |
| 1.2 | 実験に関連した基本事項 |
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| 1.2.1 | フーリエ変換分光測定の原理 |
| 1.2.2 | 分子の基準振動 |
| 1.2.3 | 赤外スペクトルと赤外吸収強度 |
| 1.2.4 | 全反射吸収測定の原理 |
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ラマン分光 |
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| 2.1 | 実験例 |
| 2.1.1 | 四塩化炭素のラマンスペクトルと偏光解消度の測定 |
| 2.1.2 | 炭素同位体のラマンスペクトル測定 |
| 2.2 | 実験に関連した基本事項 |
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| 2.2.1 | ラマン散乱と基礎理論 |
| 2.2.2 | ラマンスペクトルの表示方法 |
| 2.2.3 | 分子振動 |
| 2.2.4 | 偏光解消度 |
| 2.2.5 | ラマン散乱と発光 |
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紫外・可視吸収分光 |
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| 3.1 | 実験例 |
| 3.1.1 | 有機溶媒中に溶解したベタイン-30のスペクトル測定と溶液の色の観察 |
| 3.1.2 | ヨウ素とアミン混合物溶液の吸収スペクトル測定 |
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| 3.2 | 実験に関連した基本事項 |
| 3.2.1 | 溶媒効果による溶液の色の変化 |
| 3.2.2 | ランベルト・ベールの法則と吸収強度 |
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蛍光・リン光分光 |
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| 4.1 | 実験例 |
| 4.1.1 | 蛍光現象 |
| 4.1.2 | リン光現象 |
| 4.1.3 | 発光・励起スペクトルの補正 |
| 4.1.4 | スペクトル測定に使用される器具 |
| 4.2 | 実験に関連した基本事項 |
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| 4.2.1 | 蛍光・リン光スペクトルの解釈 |
| 4.2.2 | 発光とリン光 |
| 4.2.3 | 発光強度 |
| 4.2.4 | 励起状態の寿命 |
| 4.2.5 | 無放射遷移 |
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誘導結合プラズマ発光分析法(IC-AES)と誘導結合プラズマ質量分析法(ICP-MS) |
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| 5.1 | 実験例(底質標準物質中カドミウムおよび鉛の定量分析) |
| 5.1.1 | 初めに |
| 5.1.2 | 用意するもの |
| 5.1.3 | 器具の洗浄（脱金属処理） |
| 5.1.4 | 底質試料の酸分解 |
| 5.1.5 | 検量線作成用標準液の調製 |
| 5.1.6 | 試料の調製 |
| 5.1.7 | ICP-AES装置操作条件の最適化および測定波長の決定 |
| 5.1.8 | ICP-MS装置操作条件の最適化および測定質量数の決定 |
| 5.1.9 | ICP-AESによる底質標準物質中Pbの定量 |
| 5.1.10 | ICP-MSによる底質標準物質中微量元素濃度の定量 |
| 5.2 | ICP-AESおよびICP-MSによる微量元素分析で信頼性の高い値を得るための検討 |
| 5.2.1 | 作業環境からの汚染対策 |
| 5.2.2 | 容器からの汚染対策 |
| 5.2.3 | 試薬からの汚染 |
| 5.2.4 | 検量線作成用標準液の調製 |
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| 5.2.5 | 試料の溶液化 |
| 5.2.6 | 定性分析 |
| 5.2.7 | ICP-AES測定における波長選択とスペクトル干渉および対策 |
| 5.2.8 | ICP-AES測定における非スペクトル干渉 |
| 5.2.9 | ICP-MS測定における測定質量数選択とスペクトル干渉および対策 |
| 5.2.10 | ICP-MS測定における非スペクトル干渉 |
| 5.2.11 | ICP-AES測定における操作条件の最適化 |
| 5.2.12 | ICP-MS測定における操作条件の最適化 |
| 5.2.13 | 定量結果の評価 |
| 5.3 | 実験に関連した基本事項 |
| 5.3.1 | 原子スペクトル分析 |
| 5.3.2 | 誘導結合プラズマ（ICP）の分析用励起源およびイオン化源としての特徴 |
| 5.3.3 | ICP-AES装置 |
| 5.3.4 | ICP-MS装置 |
| 5.3.5 | プラズマ分光分析における様々な干渉 |
| 5.3.6 | 定量分析：検量線法、標準添加法、内標準法 |
| 5.3.7 | 同位体希釈法 |
| 5.4 | 標準物質の利用 |
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Ｘ線回折 |
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| 6.1 | Ｘ線回折を用いてわかることは何か？ |
| 6.1.1 | 序論 |
| 6.2 | 結晶構造の分類 |
| 6.2.1 | 対称性と結晶格子 |
| 6.2.2 | 空間群とラウエ群 |
| 6.3 | Ｘ線回折の原理 |
| 6.3.1 | Ｘ線の発生 |
| 6.3.2 | Ｘ線の散乱 |
| 6.4 | Ｘ線の測定についての基礎知識 |
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| 6.4.1 | 基礎的事項 |
| 6.4.2 | 発生装置と回折装置 |
| 6.5 | 測定の実際 |
| 6.5.1 | 試料の観察 |
| 6.5.2 | 単結晶による解析 |
| 6.5.3 | 粉末回折実験 |
| 6.5.4 | 粉末飼料の実験例 |
| 6.6 | おわりに |
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| 索引 |
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