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散乱・回折の基礎 |
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| 散乱と回折を表記する基本パラメータ |
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Ｘ線の発生と検出 |
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| Ｘ線の発生法/Ｘ線検出器 |
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単結晶によるＸ線回折 |
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| 構造解析をどのように進めるか/結晶試料の作製/回折装置/特殊条件下での単結晶構造解析/構造の決定/結晶構造の精密化/結果の評価とまとめ方/データベースの利用 |
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粉末回折 |
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| 粉末X線回折装置/回折強度の精密測定/リートベルト法/パターン分解/最大エントロピー法による電子・原子核密度の決定/非経験的構造解析/ |
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生体高分子の結晶構造 |
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| 構造解析をどのように進めるか/結晶化とＸ線回折実験/構造解析（位相決定）法/分子モデルの構築/結晶構造の精密化/構造の解釈 |
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非晶質の構造 |
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| 液体・溶液からの散乱と動径分布関数/Ｘ線異常散乱 |
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メゾスケールの構造（小角散乱） |
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| Ｘ線小角散乱装置/小角散乱の一般論/高分子、コロイド、ミセルへの応用/生体高分子のＸ線回折-円筒対称パターソン関数-/ゆらぎと小角散乱 |
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中性子散乱 |
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| 中性子線の発生と性質/単結晶中性子回折による結晶構造解析/磁気構造の決定 |
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表面・薄膜構造 |
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| 電子回折/電子顕微鏡 |
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特殊実験 |
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| 微小結晶構造解析/表面Ｘ線回折 |
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