Ｘ線・中性子線・電子線線源に共通した散乱・回折現象の実験を進めるための基礎知識、検出器の原理、各種構造解析を網羅。結晶、液体・溶液、アモルファス固体、気体、表面、ミセルや高分子・巨大粒子などの様々な試料に対し、また、用いる線源の違いに対し、どのように散乱強度を求める実験を行い、得られた散乱強度からどのようにして原子の空間的配列情報を得ていくかを解説する。 　 2006年5月15日 9,135円（本体8,700円＋税5%） 514頁 A5 丸善株式会社 ISBN4-621-07310-9 【編集委員】 　西川 恵子 　 散乱・回折の基礎 Ｘ線の発生と検出 単結晶によるＸ線回折 粉末回折 生体高分子の結晶構造 非晶質の構造 メゾスケールの構造（小角散乱） 中性子散乱 表面・薄膜構造 特殊実験 　 Copyright　(C) 2007　NTS Inc. All right reserved.