次世代半導体パッケージの最新動向とその材料、プロセスの開発 
 
応用物理 試読不可
★限界に近づく集積回路の微細化、先端半導体の差異化は
 パッケージング技術がカギを握る!
  チップレット、3次元集積化に伴うパッケージ技術の
  変革と新しい材料、プロセス技術を掲載


■ 本書のポイント
・FOWLP、2.XD、シリコンブリッジ、3D、次世代パッケージ技術
 の開発状況と特徴、課題
・3次元積層化のカギとなるハイブリッド接合技術と新規接合材
 料の開発
・新しい用途へ向けた封止材への要求特性とクラック、剥離の
 抑制手法
・パッケージ基板の配線微細化、高密度化を実現するビルドアッ
 プ工程における平坦化技術
・次世代WBG半導体の性能を発揮するパッケージ構造と高耐熱封止、
 接合材料の開発
・はんだ実装におけるクラック、ボイド、ウィスカなどの不具合
 発生要因と対策
・高速通信向け多層基板用フィルムにおける低誘電特性と他特性
 (耐熱性、低CTE等)の両立
・高熱伝導化のためのフィラーの最密充填技術、高熱伝導かつ低
 誘電率な放熱材料の設計
 
 
発刊日 2023年4月28日
定 価 本体80,000円+税
アカデミック価格 本体30,000円+税
 ※アカデミック価格の適用は、
   エヌ・ティー・エスホームページをご覧ください。
頁 数 613頁
造 本 A4
発行所 技術情報協会
ISBN 978-4-86104-951-4
 
執筆者計59名


■章タイトル

第1章 先端半導体パッケージ技術とその構造、プロセス技術
第2章 次世代パワー半導体の実装技術と放熱対策
第3章 半導体封止材料の設計、要求特性と特性向上技術
第4章 半導体実装における接着、接合技術と信頼性評価
第5章 プリント配線板の材料技術と配線形成、加工技術
第6章 熱対策部材の開発動向と熱物性評価
第7章 半導体パッケージの解析、検査技術

 
 
 
※購入方法について
 
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